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德國Heidenhain編碼器測量基準ROD4305000
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- 更新時(shí)間:2020-08-20
德國Heidenhain編碼器測量基準ROD4305000典型柵距不超 過(guò)8 µm ? OPTODUR相位光柵:光學(xué)三維平面格 柵線(xiàn)條,超高反光性能,典型柵距不超 過(guò)2 µm 這種方法除了能刻制柵距非常小的光柵 外,而且刻制的光柵線(xiàn)條邊緣清晰、均 勻。再加上光電掃描法,這些邊緣清晰 的刻線(xiàn)是輸出高質(zhì)量信號的關(guān)鍵。 母版光柵采用海德漢公司定制的精密 刻線(xiàn)機制造。
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德國Heidenhain編碼器測量基準ROD4305000
海德漢公司的光學(xué)掃描光柵尺或編碼器的 測量基準都是周期刻線(xiàn)-光柵。 這些光柵刻在玻璃或鋼材基體上。大長(cháng)度 測量用的光柵尺帶的基體為鋼帶。 海德漢公司用特別開(kāi)發(fā)的光刻工藝制造 精密光柵。 • AURODUR:在鍍金鋼帶上蝕刻線(xiàn)條, 典型柵距40 µm • METALLUR:抗污染的鍍金層金屬線(xiàn), 典型柵距20 µm • DIADUR:玻璃基體的超硬鉻線(xiàn)(典型柵 距20 µm)或玻璃基體的三維鉻線(xiàn)格柵 (典型柵距8 µm) • SUPRADUR相位光柵:光學(xué)三維平面格 柵線(xiàn)條;*抗污能力;
典型柵距不超 過(guò)8 µm • OPTODUR相位光柵:光學(xué)三維平面格 柵線(xiàn)條,超高反光性能,典型柵距不超 過(guò)2 µm 這種方法除了能刻制柵距非常小的光柵 外,而且刻制的光柵線(xiàn)條邊緣清晰、均 勻。再加上光電掃描法,這些邊緣清晰 的刻線(xiàn)是輸出高質(zhì)量信號的關(guān)鍵。 母版光柵采用海德漢公司定制的精密 刻線(xiàn)機制造。
測量法是指編碼器通電時(shí)就立即提供 位置值并隨時(shí)供后續信號處理電子電路讀 取。無(wú)需移動(dòng)軸執行參考點(diǎn)回零操作。 位置信息來(lái)自圓光柵碼盤(pán),它由一系 列碼組成。編碼結構在每轉中都一。 獨立的增量刻軌用單場(chǎng)掃描原理讀取和轉 換成位置值。
增量測量法的光柵由周期性刻線(xiàn)組成。位 置信息通過(guò)計算自某點(diǎn)開(kāi)始的增量數(測 量步距數)獲得。由于必須用參考點(diǎn) 確定位置值,因此在光柵尺或光柵尺帶上 還刻有一個(gè)帶參考點(diǎn)的軌道。參考點(diǎn)確定 的光柵尺位置值可以到一個(gè)測量 步距。 因此,必須通過(guò)掃描參考點(diǎn)建立基準 點(diǎn)或確定上次選擇的原點(diǎn)。 有時(shí),這需要旋轉近360°。為加快和簡(jiǎn)化 “參考點(diǎn)回零”操作,許多海德漢光柵尺 刻有距離編碼參考點(diǎn),這些參考點(diǎn)彼此相 距數學(xué)算法確定的距離。移過(guò)兩個(gè)相鄰參 考點(diǎn)后(一般只需數度)(見(jiàn)表中“名義 增量值 I”),后續電子電路就能找到絕 對參考點(diǎn)。 凡是距離編碼參考點(diǎn)編碼器在型號后均 帶有字母“C”(例如RON 786C)。
其中: Þ1 = 一個(gè)移過(guò)的參考點(diǎn)相對零點(diǎn)位置 的角度位置,單位度 abs = 值 sgn = 代數符號(“+1”或“–1”) MRR = 移過(guò)參考點(diǎn)間的被測距離,單位度 I = 兩個(gè)固定參考點(diǎn)間的名義增量值 (見(jiàn)表) GP = 柵距( 360° ) D = 旋轉方向(+1或–1) 向右轉(向角度編碼器安裝面看 —參見(jiàn)“配合尺寸”)為“+1”
德國Heidenhain編碼器測量基準ROD4305000